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テスト ワ ナンノ タメ ニ アルノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著
| 資料タイプ | 図書 |
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| 出版情報 | 京都 : ナカニシヤ出版 , 2022.9 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | ix, 239p : 挿図 ; 26cm |
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巻号 | 配架場所 | 請求記号 | 資料ID | 状態 | コメント | 貸出中予約 | 取 置 予 約 |
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教育図:19階書庫1 | 376.8||320 | 400063594 |
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巻号 | 配架場所 | 請求記号 | 資料ID | 状態 | コメント | 貸出中予約 | 取 置 予 約 |
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文科図:開架_NDC | 371.7||Mi66 | 010085406 |
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| 別書名 | 標題紙タイトル:test 裏表紙タイトル:Item response theory その他のタイトル:テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方 異なりアクセスタイトル:テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える |
|---|---|
| 一般注記 | 「テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方」 (2017年刊) の姉妹編 参考文献: p233-237 事項索引: p238 人名索引: p.239 |
| 著者標目 | 光永, 悠彦 (1979-) <ミツナガ, ハルヒコ> 西田, 亜希子 (1976-) <ニシダ, アキコ> |
| 件 名 | NDLSH:教育測定 NDLSH:試験 (教育) BSH:入学試験(大学) NDLSH:入学試験 -- 大学 -- 日本 全ての件名で検索 |
| 分 類 | NDC9:371.7 NDC9:376.8 NDC10:376.87 NDLC:FB35 |
| 書誌ID | BB00532258 |
| ISBN | 9784779516832 |
| NCID | BC17143066 |