Measuring intelligence : a guide to the administration of the new revised Stanford-Binet tests of intelligence / by Lewis M. Terman and Maud A. Merrill
(Riverside textbooks in education)
資料タイプ | 図書 |
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出版情報 | Boston ; New York : Houghton Mifflin company , [c1937] |
本文言語 | 英語 |
大きさ | xi, 460 p. : ill. ; 21 cm |
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巻号 | 配架場所 | 請求記号 | 資料ID | 状態 | コメント | 貸出中予約 | 取 置 予 約 |
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教育図:19階書庫2 | 371.2||202 | 022409614 |
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教育図:19階書庫2_教育課程文庫 | 371.2||T | 700096432 |
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別書名 | 異なりアクセスタイトル:Stanford-Binet tests for intelligence 背表紙タイトル:Terman and merrill |
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著者標目 | *Terman, Lewis Madison, 1877-1956 Merrill, Maud A. |
件 名 | LCSH:Educational tests and measurements |
分 類 | LCC:LB1131 DC:151.22222 DC:159.9282222 |
書誌ID | BB00044591 |
NCID | BA07029478 |