図書館へ購入を依頼する

このページのリンク

シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウ ノ コウゾウ ブンセキホウ
新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法 / 竹谷誠著

資料タイプ 図書
出版者 東京 : 早稲田大学出版部
出版年 1991.4
本文言語 日本語
大きさ 313p ; 22cm

所蔵情報を非表示


教育図:19階書庫1 370.02||15 951406408

書誌詳細を非表示

一般注記 文献:p301~309
著者標目 *竹谷, 誠(1941-) <タケヤ, マコト>
件 名 BSH:教育評価
分 類 NDC8:371.7
NDC7:371.8
NDLC:FC63
書誌ID BB00003218
ISBN 4657914162
NCID BN06351080

 類似資料