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ニチベイ ノ テスト センリャク : ハイステイクス テスト ドウニュウ ノ ケイイ ト ジッタイ
日米のテスト戦略 : ハイステイクス・テスト導入の経緯と実態 / 北野秋男著

資料タイプ 図書
出版者 東京 : 風間書房
出版年 2011.10
本文言語 日本語
大きさ vii, 165p ; 21cm

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教育図:19階書庫1 375.17||227 111102937

文科図:開架_NDC 375.17||Ki69 021076014

書誌詳細を非表示

別書名 異なりアクセスタイトル:日米のテスト戦略 : ハイステイクステスト導入の経緯と実態
著者標目  北野, 秋男(1955-) <キタノ, アキオ>
書誌ID BB00514769
ISBN 9784759918793
NCID BB07285919