図書館へ購入を依頼する

このページのリンク

Psychometrics for educational debates / edited by Leo J. Th. van der Kamp, Willem F. Langerak, and Dato N. M. de Gruijter

資料タイプ 図書
出版者 Chichester ; New York : Wiley
出版年 c1980
本文言語 英語
大きさ x, 337 p. : ill. ; 24 cm

所蔵情報を非表示


教育図:19階書庫2 371.26||113 022411175

書誌詳細を非表示

一般注記 "Proceedings of the Third International Symposium on Educational Testing, held in Leyden, The Netherlands, June 27-30, 1977."
Includes bibliographies and indexes
著者標目 *International Symposium on Educational Testing (3rd : 1977 : Leyden)
Kamp, Leo J. Th. van der
Langerak, Willem F.
Gruijter, Dato N. de
件 名 LCSH:Educational tests and measurements -- Congresses  全ての件名で検索
分 類 LCC:LB3051
DC:371.2/6
書誌ID BB00044871
ISBN 0471275964
NCID BA00735871

 類似資料