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Psychometrics for educational debates / edited by Leo J. Th. van der Kamp, Willem F. Langerak, and Dato N. M. de Gruijter
| 資料タイプ | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Chichester ; New York : Wiley |
| 出版年 | c1980 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | x, 337 p. : ill. ; 24 cm |
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巻号 | 配架場所 | 請求記号 | 資料ID | 状態 | コメント | 貸出中予約 | 取 置 予 約 |
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教育図:19階書庫2 | 371.26||113 | 022411175 |
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| 一般注記 | "Proceedings of the Third International Symposium on Educational Testing, held in Leyden, The Netherlands, June 27-30, 1977." Includes bibliographies and indexes |
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| 著者標目 | *International Symposium on Educational Testing (3rd : 1977 : Leyden) Kamp, Leo J. Th. van der Langerak, Willem F. Gruijter, Dato N. de |
| 件 名 | LCSH:Educational tests and measurements -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:LB3051 DC:371.2/6 |
| 書誌ID | BB00044871 |
| ISBN | 0471275964 |
| NCID | BA00735871 |