Advances in psychological and educational measurement / edited by Dato N. M. de Gruijter and Leo J. Th. van der Kamp
資料タイプ | 図書 |
---|---|
出版者 | London ; New York : Wiley |
出版年 | c1976 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | x, 320 p. ; 24 cm |
所蔵情報を非表示
閲覧票 |
巻号 | 配架場所 | 請求記号 | 資料ID | 状態 | コメント | 貸出中予約 | 取 置 予 約 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
教育図:19階書庫2 | 371.26||87 | 022410984 |
|
書誌詳細を非表示
一般注記 | Proceedings of the Symposium sponsored by the Educational Research Centre of the University of Leyden Includes indexes |
---|---|
著者標目 | *International Symposium on Educational Testing (2nd : 1975 : Montreux, Switzerland) Gruijter, Dato N. de Kamp, Leo J. Th. van der Leyden. Rijksuniversiteit. Educational Research Centre |
件 名 | LCSH:Educational tests and measurements -- Congresses 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:LB3051 DC:371.2/6 |
書誌ID | BB00044821 |
ISBN | 0471018171 |
NCID | BA05061061 |