シンリ テスト ノ カクリツ モデル
心理テストの確率モデル / ゲオルク・ラッシュ著 ; 内田良男監訳
資料タイプ | 図書 |
---|---|
出版者 | 名古屋 : 名古屋大学出版会 |
出版年 | 1985.8 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | xxviii, 237p ; 21cm |
書誌詳細を非表示
別書名 | 原タイトル:Probabilistic models for some intelligence and attainment tests |
---|---|
一般注記 | 著者の肖像あり 文献: p229〜231 |
著者標目 | *Rasch, G. (Georg), 1901- 内田, 良男 <ウチダ, ヨシオ> |
件 名 | NDLSH:精神測定 |
分 類 | NDC8:140.7 NDLC:SB31 |
書誌ID | BB00032030 |
ISBN | 493068935X |
NCID | BN00541130 |