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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 IEEEのカンファレンスと刊行物に関する総合的分析 : 成長・激変する世界の電気電子・情報通信研究と日本 / 白川展之, 古川貴雄, 野村稔, 奥和田久美[著] T2 調査資料 A1 白川, 展之 A1 古川, 貴雄 A1 野村, 稔 A1 奥和田, 久美 YR 2011 FD 2011.6 SP xi, 154p K1 電気工学 K1 研究開発 K1 計量書誌学 K1 Institute of Electrical and Electronics Engineers PB 文部科学省科学技術政策研究所科学技術動向研究センター PP [東京] LA Japanese (日本語) CL NDLC:ND21 CL NDC9:540 NO 書誌ID=BB80054097; LK [OPAC]https://nierlib.nier.go.jp/opac/opac_link/bibid/BB80054097 OL 58