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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 技術知識の減衰モデルと減衰特性分析 : 登録特許残存件数による減衰データへの応用 : 要約 / 光畑照久[著] T2 Discussion paper A1 光畑, 照久 YR 1997 FD 1997.1 SP 21p K1 研究開発 K1 科学技術研究 PB 科学技術庁科学技術政策研究所 PP [東京] LA Japanese (日本語) CL NDC9:507 CL NDLC:M42 NO 書誌ID=BB80054563; LK [OPAC]https://nierlib.nier.go.jp/opac/opac_link/bibid/BB80054563 OL 58