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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法 / 竹谷誠著 A1 竹谷, 誠(1941-) YR 1991 FD 1991.4 SP 313p K1 教育評価 PB 早稲田大学出版部 PP 東京 SN 4657914162 LA Japanese (日本語) CL NDC8:371.7 CL NDC7:371.8 CL NDLC:FC63 NO 文献:p301~309 NO 書誌ID=BB00003218; NCID=BN06351080; LK [OPAC]https://nierlib.nier.go.jp/opac/opac_link/bibid/BB00003218 LK [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/DocDetail?hdn_if_lang=jpn&txt_docid=NCID:BN06351080; [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/EqualFromForm?txt_isbn=4657914162 OL 58